QRM-Beamstop X射線散射校正板、X射線散射模體詳細(xì)介紹：

Beam Stop Phantom,QRM-Beamstop散射校正板原理

散射校正板（Beam Stop Array, BSA）方法是最近幾年提出的一種軟硬件結(jié)合的散射校正方法，以錐束ct的實(shí)際應(yīng)用中取得了良好的效果，受到研究人員的廣泛重視。

為了檢測到散射射線的強(qiáng)度分布，需要定制一塊散射校正板，校正板是由一個有機(jī)玻璃板構(gòu)成，有機(jī)玻璃板上均勻分布著同等間隔同等尺寸的氣孔，氣孔由鉛滴填充。將散射校正板平行放置于探測器前，探測器上的鉛塊對應(yīng)的位置上探測到的光強(qiáng)都是由散射射線產(chǎn)生的，由于散射射線強(qiáng)度空間頻率較低，可以通過對相應(yīng)的鉛塊點(diǎn)的像素值 進(jìn)行二維插值，擴(kuò)展到整個平面，得到散射強(qiáng)度分布圖，從而是應(yīng)用于進(jìn)一步的散射校正。

Beam Stop Phantom,QRM-Beamstop散射校正板用來估計X射線的散射分布

錐形束計算機(jī)斷層掃描

并開發(fā)散射校正技術(shù)

Beam Stop Phantom,QRM-Beamstop散射校正板由嵌入聚甲基丙烯酸甲酯中的規(guī)則圓柱體陣列組成

(PMMA) 板。在假設(shè)鉛由于阻滯劑提供的衰減長度足以防止初級輻射到達(dá)探測器，因此 QRM-Beamstop 是一種方便的方法，可以通過實(shí)驗(yàn)確定模擬和數(shù)字射線照相的給定測量設(shè)置的 X 射線散射與初級比。

Beam Stop Phantom,QRM-Beamstop散射校正板列放置在物體和 X 射線源之間或物體和探測器之間。

每個阻滯劑后面的信號電平的測量給出了散射強(qiáng)度，而沒有光束停止陣列的測量表示總強(qiáng)度（散射和主要信號）。將兩個值相除會得到散射分?jǐn)?shù)。

Beam Stop Phantom,QRM-Beamstop散射校正板尺寸：240mm X 240mm X 6mm
材料：PMMA
鉛圓柱：高度6 mm，直徑3mm,間距20mm;


 Beam Stop Phantom 由嵌入 PMMA 板的鉛圓柱的規(guī)則陣列組成。鉛阻滯劑提供足以防止初級輻射到達(dá)檢測器的衰減。Beam Stop Phantom 是一種方便的工具，可用于通過實(shí)驗(yàn)確定模擬和數(shù)字射線照相的給定測量設(shè)置的 X 射線散射與主要比率。

光束停止陣列放置在物體和 X 射線源之間或物體和探測器之間。

每個阻滯劑后面的信號水平的測量給出了散射強(qiáng)度，而沒有體模的測量表示總強(qiáng)度（散射和主要信號）。將兩個值相除會得到散射分?jǐn)?shù)。

Beam Stop Phantom,QRM-Beamstop光束停止陣列模體

QRM-Beamstop散射校正板,QRM-Beamstop X射線散射校正板實(shí)拍圖見下：