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MCP-T710電阻率儀

  • 產品型號:Loresta-GXⅡ MCP-T710
  • 更新時間:2026-06-10

簡要描述:Loresta-GXⅡ MCP-T710低電阻率儀 MCP-T710電阻率儀是一種用于測量電阻率的測量儀器,電阻率是材料評價標準之一。

產品詳情
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Loresta-GXⅡ MCP-T710低電阻率儀  MCP-T710電阻率儀是一種用于測量電阻率的測量儀器,電阻率是材料評價標準之一。
 
電阻率(表面電阻率、體積電阻率和電導率)是反映材料狀態和特性的指標之一。Loresta-GXⅡ MCP-T710是一款能夠利用校正系數輕松、精確地測量電阻率的設備。
 
該設備符合 JIS K 7194 測量方法,可使用各種探針測量多種材料,包括導電塑料、ITO 薄膜和硅片。
 
與傳統的四端測量方法不同,該方法無需在被測物體上制作電極。使用我們設計的各種四探針,只需一次接觸即可完成電阻率測量。
 
 
主要測量
導電塑料、電磁屏蔽材料、硅片、導電橡膠、導電涂料、導電漿料、導電油墨、金屬薄膜、ITO玻璃、導電膜等。
 
 
Loresta-GXⅡ MCP-T710低電阻率儀  MCP-T710 電阻率儀精確快速測量材料電阻率
低電阻率儀(測量范圍 10?? - 10? Ω)
智能電阻率儀,配備 4 針調節系數計算軟件
 
 
與Loresta GP( 10?3至 10? Ω )相比,測量范圍已擴展至10??至10? Ω 。
通過改變電流方向,可以測量硅晶片。
恒流變量功能(允許使用微小電流進行采樣測量)
最多可將 2000 個測量結果輸出到 U 盤。
采用觸摸面板后,易用性得到提升。

MCP-T710電阻率儀
 
 
 
 
Loresta-GXⅡ MCP-T710低電阻率儀  MCP-T710 電阻率儀特征:
 
測量范圍下限擴展至10?? Ω
操作直觀,配備功能齊全的7.5英寸彩色液晶觸摸屏
測量范圍擴大至10?? - 10? Ω
用于硅片測量的硅模式
新增一鍵自動測量功能、自動保持和定時模式
 
 
 
Loresta-GXⅡ MCP-T710低電阻率儀  MCP-T710 電阻率儀規格:

測量方法恒流施加法/四探針法
數據顯示640 x 480 像素 7.5 英寸全彩 TFT LCD 觸摸屏
康瓦萊拉上限和下限可以分別設置。
探測專用探頭:ASR、LSR、ESR、PSR、QR、BSR、NSCR、AR、BR
數據輸出USB閃存盤
電源交流電 85-264V 47-63Hz
尺寸和重量寬320×深285×高110毫米<br>(收納盒打開時尺寸:寬320×深285×高200毫米)約2.4公斤
標準配置ASR探針,4針探針檢測器
 


測量范圍和精度


\恒流值
1A100毫安10毫安1毫安100 μA10 μA
測量 范圍


 
10 -4±(2.0% + 30dgt)




10 -3±(2.0% + 20dgt)±(2.0% + 20dgt)



10 -2±(1.0% + 5dgt)±(1.0% + 5dgt)±(2.0% + 20dgt)


10 -1±(1.0% + 3dgt)±(1.0% + 3dgt)±(1.0% + 5dgt)±(2.0% + 20dgt)

10 0
±(0.5% + 3dgt)±(0.5% + 3dgt)±(1.0% + 5dgt)±(2.0% + 20dgt)
10 1

±(0.5% + 3dgt)±(0.5% + 3dgt)±(1.0% + 5dgt)±(2.0% + 20dgt)

 
\恒流值
1毫安100 μA10 μA1 μA0.1 μA
測量 范圍


 
10 2±(0.5% + 3dgt)±(0.5% + 3dgt)±(1.0% + 5dgt)±(2.0% + 20dgt)
10 3
±(0.5% + 3dgt)±(0.5% + 3dgt)±(1.0% + 5dgt)±(2.0% + 20dgt)
10 4

±(0.5% + 3dgt)±(0.5% + 3dgt)±(1.0% + 5dgt)
10 5


±(0.5% + 3dgt)±(1.0% + 3dgt)
10 6



±(1.0% + 3dgt)
10 7



±(2.0% + 5dgt)
 
可選:
針對各種樣品,提供了多種探針選擇,并可提供特殊形狀的探針。

MCP-T710電阻率儀
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MCP-T710電阻率儀
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提示:
Loresta GX 的探針無法連接到 Loresta GXII。
 
SAG:日本精工,Loresta-GXⅡ MCP-T710,低電阻率儀, MCP-T710 電阻率儀,日本精工電阻率儀,NITTOSEIKO ANAL YTECH


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